工耗品平台-LEEB/里博超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IA支架 1个

仪器仪表工业检测探伤仪探伤仪附件 LEEB/里博超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IA支架 1个

LEEB/里博超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IA支架 1个

价格¥466.67

未税价格¥412.98

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调拨库存：100个

品牌名称LEEB/里博

商品编码AA2420199

制造商订货号暂无

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商品型号CSK-IA支架

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商品详情

品牌：LEEB/里博

描述：超声波探伤仪标准校准试块

类型：试块支架

品牌：LEEB/里博

产品名称：超声波探伤仪标准校准试块

制造商型号：CSK-IA支架

产品特点：

·我国承压承压设备无损检测标准NB/T47013中规定的标准试块

适用场合

·利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度; ·利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角; ·利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况; ·利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围; ·利用25mm厚度调整纵波探测范围和扫描速度; ·利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度; ·利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。